产品名称：trioptics北京全欧光学生产用干涉仪

产品介绍-生产用干涉仪--北京全欧光学
www.trioptics-china.com
µPhase® 面型测试系统
用于测量表面和波前变形的干涉仪
 µPhase®干涉仪可以对由玻璃、塑料、金属、陶瓷或类似材料制成的反射和透射组件的表面和波前变形进行快速、高精度测量。客观可靠的结果满足高质量管理要求。非接触式测量过程有助于防止损坏样品。
对平面、球面、圆柱、复曲面和非球面部件的整个表面和波前变形进行高精度测量。
µPhase®可普遍用于反射率从0.2%到100%的所有表面，由玻璃、塑料、金属和陶瓷等材料制成。
客观的数字化测量可避免操作员的影响。同样，坚固的防尘外壳确保了高可靠性。
 µPhase®干涉仪是非常紧凑、小巧、轻便的数字化设备，可以在很多工作环境中使用。在µShape软件的支持下，可以进行广泛的测量分析。
 µPhase®传感器是TRIOPTICS干涉测量的基础。该传感器是模块化的，可以配置各种测量直径，并代表特定的测量任务。此外，可以以低成本提供定制的解决方案。
µPhase® PLANO DOWN 结构紧凑
µPhase® PLANO DOWN具有紧凑的设计，适用于在研发和生产中测量平面部件。
测量直径范围*大为150mm
将样品放在花岗岩板上并从顶部开始测量
由于该装置具有坚固的花岗岩底座，通常不需要隔振
设计紧凑，占地面积小
高度可调节的立柱易于操作
由于其直观且易于操作，因此也可由未经培训的人员使用

 µPhase® PLANO DOWN具有紧凑的设计，适用于在研发和生产中测量平面部件。
测量直径范围*大为150mm
将样品放在花岗岩板上并从顶部开始测量
由于该装置具有坚固的花岗岩底座，通常不需要隔振
设计紧凑，占地面积小
高度可调节的立柱易于操作
由于其直观且易于操作，因此也可由未经培训的人员使用
µPhase® PLANO UP 生产中的平面透镜
对于生产光学平板的经济高效的质量控制，µPhase® PLANO UP是很好的选择。
测量直径范围*大为100mm
紧凑型设计，适合小空间，可放置在生产机器旁边
样品位于装置顶部的环形卡盘或三点支撑上，并从下方测量
抗震
连续测量不需要中间重新校准
由于其直观且易于操作，因此也可由未经培训的人员使用

 对于生产光学平板的经济高效的质量控制，µPhase® PLANO UP是很好的选择。
测量直径范围*大为100mm
紧凑型设计，适合小空间，可放置在生产机器旁边
样品位于装置顶部的环形卡盘或三点支撑上，并从下方测量
抗震
连续测量不需要中间重新校准
由于其直观且易于操作，因此也可由未经培训的人员使用
µPhase® SPHERO UP 生产中的球体
使用µPhase® SPHERO UP在生产中可以快速且经济地控制球面。
测量直径范围*大为50mm
紧凑型设计，适合小空间，可放置在生产机器旁边
样品位于装置顶部的环形卡盘或三点支撑上，并从下方开始测量
抗震
连续测量中间不需要重新校准
由于其直观且易于操作，因此也可由未经培训的人员使用

 使用µPhase® SPHERO UP在生产中可以快速且经济地控制球面。
测量直径范围*大为50mm
紧凑型设计，适合小空间，可放置在生产机器旁边
样品位于装置顶部的环形卡盘或三点支撑上，并从下方开始测量
抗震
连续测量中间不需要重新校准

由于其直观且易于操作，因此也可由未经培训的人员使用

 

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